更新時(shí)間:2025-02-23
RGA 殘余氣體分析儀殘余氣體分析儀用于半導(dǎo)體過程分析分子束外延 MBE-物理氣相沉積 PVD-化學(xué)氣相沉積 CVD-原子層沉積 ALD-鑒別痕跡污染物 Identification of trace contaminants-材料滲透率測(cè)試 Material pereability test
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RGA 殘余氣體分析儀殘余氣體分析儀用于半導(dǎo)體過程分析分子束外延 MBE
-物理氣相沉積 PVD
-化學(xué)氣相沉積 CVD
-原子層沉積 ALD
-鑒別痕跡污染物 Identification of trace contaminants
-材料滲透率測(cè)試 Material pereability test